Suvediilide lainesse on lisatud uued tooted! Kuni -60%* Kaup24 PLUS liikmetele >> 
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation, Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Täpsustused:
| Kauba ID: | 115043124 |
Rohkem infot
- Täishind
-
24 k. intressivaba
Al. 426 € x 24 kuudvõiAl. 219 € x 60 kuud
Järelmaksu kalkulaator
Järelmaksu krediidi kulukuse määr on 23,38% aastas järgmistel näidistingimustel: järelmaksu summa 8271 €, lepinguperiood kuudes 24, intressimäär 0,00% ostusummalt, sissemakse 0,00%, lepingutasu 000 €, haldustasu 082 €, igakuine osamakse 426 €, krediidi kogukulu 10224 €. Teenuse pakkujaks on AS Inbank Finance. Enne lepingu sõlmimist soovitame sul tutvuda finantsteenuse tingimustega ja vajadusel konsulteerida spetsialistiga.
Järelmaksu krediidi kulukuse määr on 23,38% aastas järgmistel näidistingimustel: järelmaksu summa 8271 €, lepinguperiood kuudes 24, intressimäär 0,00% ostusummalt, sissemakse 0,00%, lepingutasu 000 €, haldustasu 082 €, igakuine osamakse 426 €, krediidi kogukulu 10224 €. Teenuse pakkujaks on AS Inbank Finance. Enne lepingu sõlmimist soovitame sul tutvuda finantsteenuse tingimustega ja vajadusel konsulteerida spetsialistiga.
Müüja:
000 €
249 €
299 €
799 €
Tähelepanu! Tarneajad on esialgsed ning selguvad pärast tellimuse vormistamist ja tasumise aega. Lõplik tarnekuupäev on märgitud tellimuse kinnituses.
249 €
299 €
799 €
Tähelepanu! Tarneajad on esialgsed ning selguvad pärast tellimuse vormistamist ja tasumise aega. Lõplik tarnekuupäev on märgitud tellimuse kinnituses.
Müüja:
- 89% ostjatest soovitaks seda müüjat.
Toote kirjeldus: Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of theinstrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists.
Üldine tooteinfo: Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
| Kauba ID: | 115043124 |
| Kategooria: | Mikroskoobid |
| Tootepakendite arv: | 1 tk. |
| Paki suurus ja kaal (1): | 0,235 x 0,155 x 0,016 m, 0,66 kg |
Rohkem infot
Toodete pildid on illustratiivsed ja näitlikud. Tootekirjelduses sisalduvad videolingid on ainult informatiivsetel eesmärkidel, seega võib neis sisalduv teave erineda tootest endast. Värvid, märkused, parameetrid, mõõtmed, suurused, funktsioonid, ja / või originaaltoodete muud omadused võivad nende tegelikust väljanägemisest erineda, seega palun tutvuge tootekirjeldustes toodud tootespetsifikatsioonidega.
Teised on vaadanud
Partnerite pakkumised
Reklaam
Hinnangud ja arvustused (0)
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Jäta esimene arvustus!
Toote hindamiseks pead olema sisse logitud ja toote Kaup24.ee e-poest eelnevalt ka ostnud.
Hinda toodet
Küsimused ja vastused (0)
Teie küsimus on edukalt saadetud. Sellele küsimusele vastatakse 3 tööpäeva jooksul