ALEplus уже здесь! До -50%* для участников Kaup24 PLUS! Экономь больше! >>
1
Привет, нужна помощь?

Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

0.0 (0) Вопросы и ответы (0)
Выбор:
Показать больше
Спецификации:
ID товара: 115043124
Больше информации
Только в приложении Kaup24 PLUS участникам! Получи до 4x больше Kaup24-евро!*
  • Полная цена
  • Оплатить частями
    От 306 € x 60 мес.

Цена Kaup24 PLUS

8122 €

Обычная цена

10830 €

Цена Kaup24 PLUS

8122 €
От 306 € / мес.
Калькулятор лизинга
Продавец:
Ваш город

Kaup24 магазин в Таллинне (центр Mustika, Karjavälja 4)

15 июля
000 €

Заберите в Omniva посылочном автомате

15 июля
249 €

Доставим на дом

15 июля
799 €

Внимание! Сроки доставки являются предварительными, так как cроки обновляются в зависимости от фактического времени размещения заказа и оплаты. Окончательный срок доставки указывается продавцом после подтверждения заказа.

Заберите в Omniva посылочном автомате

15 июля
249 €

Доставим на дом

15 июля
799 €

Внимание! Сроки доставки являются предварительными, так как cроки обновляются в зависимости от фактического времени размещения заказа и оплаты. Окончательный срок доставки указывается продавцом после подтверждения заказа.

14-дневная гарантия возврата
24-х месячная гарантия производителя для физических лиц
Продавец:
  • 89% покупателей рекомендовали бы этого продавца.
Скачай приложение и получи подарок
Информация

Часто покупают вместе

Описание товара: Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of theinstrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists.

Общая информация o: Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

ID товара: 115043124
Категория: Микроскопы
Количество упаковок товара: 1 шт.
Размеры и вес упаковки (1): 0,235 x 0,155 x 0,016 м, 0,66 кг

Изображения продуктов приведены исключительно в иллюстративных целях и являются примерными. Ссылки на видео в описании товара предназначены только для информационных целей, поэтому информация, которую они содержат, может отличаться от самого товара. Цвета, надписи, параметры, размеры, функции и/или любые другие характеристики оригинальных продуктов из-за их визуальных характеристик могут отличаться от реальных, поэтому, пожалуйста, ознакомьтесь со спецификациями продукта, приведенными в описании продукта.

Другие также интересовались
Партнерские предложения
Реклама

Рейтинги и отзывы (0)

Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Будьте первым, кто оставит отзыв!
Этот товар могут оценить только его покупатели, зарегистрированные на Kaup24.ee.
Оценить товар

Вопросы и ответы (0)

Спросите об этом товаре у других покупателей!
Задать вопрос
Ваш вопрос успешно отправлен. На этот вопрос будет дан ответ в течение 3 рабочих дней
Вопрос должен состоять не менее чем из 10 символов
Подать вопрос Отменить

Рекомендуем вместе с: Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

Лучшие товары от Patogupirkti

Продолжить покупки

Микроскопы

: Mikroskoop Bebang DL-Y2211, Bioloogiline mikroskoop ekraaniga, 1200X, professionaalne, laborimikroskoop, teaduslik vaatlus, kõrge suurendus., Professionaalne käsitööline digitaalmikroskoop elektroonika remondiks, 1000x, Professionaalne bioloogiline mikroskoop, 640X, Professionaalne digitaalne meistermikroskoop elektroonika remondiks, 1200x, Mikroskoop Bebang EMKJ-22N6-651, Mikroskoobi preparaatklaaside komplekt Lakwar B0BRXH5JC6, Mikroskoop 2 okulaari, binokulaarne mikroskoop, kahe okulaariga mikroskoop, optiline mikroskoop, lastele, teadusmikroskoop, hariduslik mikroskoop., Digitaalne mikroskoop 1000x, Mikroskoop 40-1600x, hariduslik mikroskoop, telefoni hoidjaga, laboratooriumime mikroskoop, õppevahend., Kaasaskantav LED-mikroskoop koos telefonihoidjaga lastele ja algajatele - 40X kuni 750X suurendus, mitmed okulaarid, hariv teaduskomplekt, ideaalne kooliõpilastele ja koduõppeks., Professionaalne bioloogiline mikroskoop 2 okulaariga, 1600x, 4.3" Digitaalne LCD-mikroskoop 50x-1000x Suurendus Ekraaniga, USB Ühendus, Portatiivne Mikroskoop Vahetatavate Läätsega, Kõrge Eraldusvõimega Ekraan, Nutikas digitaalne kaasaskantav mikroskoop lastele 5,08 cm värvilise ekraaniga, Kaasaskantav hariduslik mikroskoop lastele ja täiskasvanutele, 40-400X suurendusvõime, mitmed objektiivid, telefonihoidik ja LED-valgustus, algajatele ja teadushuvilistele