Искали:

v ii

Найденные товары (1)
Фильтровать
Покупатели оценили: 4.5/5
22 482 оценки. Смотреть все
Фильтровать

IoT System Testing: An IoT Journey from Devices to Analytics and the Edge 1st ed.

Автор: Jon Duncan Hagar
Количество страниц: 326
Год публикации: 2022