ISTFA 2021: Conference Proceedings from the 47th International Symposium for Testing and Failure Analysis

Спецификации:
Автор: ASM International, Не указано
Количество страниц: 461, Не указано
Год публикации: 2022, Не указано
ID товара: 13471081
  • Полная цена
  • Оплатить частями 899 x 60 мес.
23792
23792
899 / мес.
или
3 7932
Без подорожания
Продавец: Bookstore Krisostomos 4.9
В корзину
Ваш город

Заберите в Omniva посылочном автомате

22 мая

000

Заберите в SmartPosti посылочном автомате

22 мая

000

Заберите в почтовом отделении Эстонии

22 мая

000

Доставим на дом

22 мая

399

Внимание! Сроки доставки являются предварительными, так как cроки обновляются в зависимости от фактического времени размещения заказа и оплаты. Окончательный срок доставки указывается продавцом после подтверждения заказа.

Заберите в Omniva посылочном автомате

22 мая

000

Заберите в SmartPosti посылочном автомате

22 мая

000

Заберите в почтовом отделении Эстонии

22 мая

000

Доставим на дом

22 мая

399

Внимание! Сроки доставки являются предварительными, так как cроки обновляются в зависимости от фактического времени размещения заказа и оплаты. Окончательный срок доставки указывается продавцом после подтверждения заказа.

Продавец: Bookstore Krisostomos 4.9
  • 95% покупателей рекомендовали бы этого продавца.

Другие также интересовались

Описание товара: ISTFA 2021: Conference Proceedings from the 47th International Symposium for Testing and Failure Analysis

The theme for the 2021 conference was System-in-Package (SiP) technology. Papers include discussions on board and system level failure analysis; detecting counterfeit microelectronics; emerging failure analysis techniques and concepts; future challenges of failure analysis; scanning probe analysis; hardware attacks, security, and reverse engineering; microscopy and material characterization; nanoprobing and electrical characterization; and more. In the 21st century, the electronic market will be driven by consumers with demands of immediate entertainment, fast access to information, and communications anywhere in a personalized fashion and at affordable prices. The new challenge is not how many transistors can be built on a single chip, as in System-on-Chip (SoC), but rather how to integrate diverse circuits together predictably, harmoniously, and cost effectively. Instead of getting twice the transistors for the same cost as Moore's Law predicted in the past 50 years, the goal of SiP is to obtain the same number of transistors for half the cost within less than half the time to market.

Общая информация o: ISTFA 2021: Conference Proceedings from the 47th International Symposium for Testing and Failure Analysis

ID товара: 13471081
Категория: Книги по социальным наукам
Количество упаковок товара: 1 шт.
Размеры и вес упаковки (1): 0,3 x 0,3 x 0,1 м, 0,2 кг
Издательство: A S M International
Язык публикации: Aнглийский
Тип обложки: Твердый
Формат: Традиционная книга
Тип: Не указано
Raamat väljavõttega: Да
Автор: ASM International, Не указано
Количество страниц: 461, Не указано
Год публикации: 2022, Не указано

Изображения продуктов приведены исключительно в иллюстративных целях и являются примерными. Ссылки на видео в описании товара предназначены только для информационных целей, поэтому информация, которую они содержат, может отличаться от самого товара. Цвета, надписи, параметры, размеры, функции и/или любые другие характеристики оригинальных продуктов из-за их визуальных характеристик могут отличаться от реальных, поэтому, пожалуйста, ознакомьтесь со спецификациями продукта, приведенными в описании продукта.

Партнерские предложения
Реклама

Рейтинги и отзывы (0)

ISTFA 2021: Conference Proceedings from the 47th International Symposium for Testing and Failure Analysis
Будьте первым, кто оставит отзыв!
Этот товар могут оценить только его покупатели, зарегистрированные на Kaup24.ee.
Оценить товар

Вопросы и ответы (0)

Спросите об этом товаре у других покупателей!
Задать вопрос
Ваш вопрос успешно отправлен. На этот вопрос будет дан ответ в течение 3 рабочих дней
Вопрос должен состоять не менее чем из 10 символов

Рекомендуем вместе с: ISTFA 2021: Conference Proceedings from the 47th International Symposium for Testing and Failure Analysis


Лучшие товары от Bookstore Krisostomos